DP-WSP-6型半導體電阻率測試儀是于各種半導體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設備,測定范圍:0.01-199.99歐姆厘米，是廠家硅料分選測試的理想具。

產(chǎn)品型號：DP-WSP-6

更新時間：2016-10-21

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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專用儀器儀表

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半導體電阻率測試儀/四探針電阻率測試儀型號：DP-WSP-6

DP-WSP-6型半導體電阻率測試儀是于各種半導體材料包括:片狀硅料、晶體、晶體等的電阻率測定的設備,測定范圍:0.01-199.99歐姆厘米，是廠家硅料分選測試的理想具。

1、主要標:

電源：220V交流

可測晶片直徑（zui大）Ф100mm,方形230×220mm

恒流源：電流量程為0.01～1mA連續(xù)可調(diào)，誤差≦±0.5%。

數(shù)字電壓表：量程：0.1～200mV,zui大分辨率：100μV

電阻率顯示：三位半數(shù)字顯示：小數(shù)點、性、過載、自動顯示0.01-199.99歐姆。厘米

輸入抗阻：0.2mV和2mV量程：＞108Ω

測量度：±0.1。

zui大電阻測量誤差（按JJG508-87行）：0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω≤±5%讀數(shù)±2個字。

重摻檢測誤差（JJG508-87行）：1Ω≤±1%、0.5Ω≤±0.5%、0.1Ω≤±0.1%

測量環(huán)境：溫度23±2℃，相對濕度≤65%

2、操作程序：

1、連好電源，打開后面板電源開關，電源示燈亮，表示待機畢。

2、校準設備：厚度小于3.98mm取與要備測試硅材料厚度相同的硅材料標準樣塊校準電阻率測試儀，測試厚度大于3.98mm的硅材料可取厚度大于3.98mm的標準樣塊校準電阻率測試儀

3、測試：用四探針接觸硅材料，以探針壓下三分之二為準，待儀器顯示數(shù)字穩(wěn)定即可，

4校驗：在測試過程中要求2小時用標準樣塊校準次設備，

3、針組件;維護及注意事項:

1、般情況下,除了信號傳輸線的斷裂引起的故障外, 針的維護主要包括針頭的更換和針頭的清理清潔作

2、維護后的安裝及維護過程中,注意安裝過程中的排線位置,按綠紅黃黑（1234）位置排列

其它

商品名稱：透明度測定儀/透明度檢測儀/透明度測試儀
商品型號：DP-TMD型

透明度測定儀/透明度檢測儀/透明度測試儀 型號：DP-TMD型

透明度測定儀/透明度檢測儀/透明度測試儀說明：

DP-TMD型透明度測定儀是我公司為配合《危險化學品涂料產(chǎn)品許可證實施細則》的實施研制出來的產(chǎn)品。該儀器根據(jù)GB 1721《清漆、清油及稀釋劑外觀和透明度測定法》制作的。該儀器不需要何標準試劑，使用非常簡單、方便，而且量了化產(chǎn)品透明度的等級，有效地改善了目前此項標的現(xiàn)狀。

透明度測定儀/透明度檢測儀/透明度測試儀主要參數(shù)：

訂購信息	DP-TMD型
波長	可從340-1000nm調(diào)節(jié)，便于分辨深顏色樣品
測試度	±1%
測試范圍	0.0%～125.0%
校正	自動校正
調(diào)零	自動調(diào)零